Whatsapp
Ang mga regular na pagsubok ay mga tseke ng kalidad sa bawat transpormer. Ang bawat transpormer ay sumasailalim sa mga regular na pagsubok. Ang layunin ay upang kumpirmahin na ang pangunahing pagganap ay nakakatugon sa mga kinakailangan sa disenyo.
Ang ratio ng turnings at mga pagsubok sa relasyon ng boltahe ay ginagamit upang mapatunayan ang ratio ng mga lumiliko ng bawat paikot -ikot. Sinusuri din nito ang pagsasaayos ng pagkakasunud -sunod ng phase, i.e., ang pangkat ng koneksyon. Gumagamit ang mga manggagawa ng isang tulay na ratio para sa pagsubok. Nag-aaplay sila ng three-phase o single-phase boltahe sa mababang boltahe na bahagi at pagkatapos ay sukatin ang boltahe sa mga terminal ng high-boltahe. Nasuri din ang mga anggulo ng phase.
Ang paikot -ikot na mga pagsubok sa paglaban sa DC ay ginagamit upang suriin ang mga koneksyon sa wire, paghihinang, at mga contact sa Tapikin. Nagbibigay ito ng paunang data para sa mga kalkulasyon ng pagtaas ng temperatura at diagnosis ng kasalanan. Ang gawaing ito ay maaaring magawa sa isang microohmmeter o DC resisting tester. Ang mga pagsukat ay kinuha sa bawat posisyon ng gripo. Ang mga resulta ay na -convert sa parehong halaga ng temperatura para sa patas na paghahambing.
Ang impedance boltahe at pag-load ng pagkawala ng pagsubok ay sumusukat sa short-circuit impedance. Sinusubaybayan din nito ang mga pagkalugi ng pag -load na sanhi ng paikot -ikot na paglaban at mga epekto ng naliligaw. Ang pagsubok na ito ay isinasagawa sa na -rate na kasalukuyang. Ang impormasyong ito ay tumutulong sa pagtantya ng short-circuit kasalukuyang at mga gastos sa operating system. Ang pamamaraan ay ang mga sumusunod: short-circuit isang paikot-ikot (karaniwang ang mababang boltahe na paikot-ikot). Mag -apply ng isang mas mababang boltahe sa iba pang paikot -ikot. Dahan -dahang dagdagan ang kasalukuyang sa na -rate na halaga. Itala ang halaga ng boltahe sa puntong ito bilang boltahe ng impedance. Kasabay na itala ang halaga ng kapangyarihan bilang pagkawala ng pag -load.
Ang pagkawala ng walang-load at walang-load na kasalukuyang pagsubok ay sinusuri ang mga katangian ng magnetization ng core. Kasama dito ang pagkawala ng hysteresis at eddy kasalukuyang pagkawala sa na -rate na boltahe at dalas. Sinusuri nito ang kalidad ng pagmamanupaktura ng core at ang kalidad ng mga sheet ng asero ng silikon. Ilapat ang na -rate na boltahe sa isang paikot -ikot. Panatilihing bukas ang iba pang paikot -ikot. Sukatin ang lakas ng pag-input upang masukat ang pagkawala ng walang pag-load. Kasabay na suriin ang kasalukuyang walang-load.
Ang paglaban sa paglaban at pagsipsip ng ratio ay ginagamit upang suriin ang pangunahing pagganap ng pagkakabukod sa pagitan ng mga paikot -ikot, kabilang ang pagkakabukod sa lupa. Bilang karagdagan, maaari itong makita ang kahalumigmigan o kontaminasyon sa materyal na pagkakabukod. Ang mga tester ng paglaban sa paglaban, tulad ng mga megohmmeters o mga tester na batay sa thyristor, ay maaaring magsagawa ng pagsubok na ito. Sinusukat ang paglaban sa mga itinakdang puntos ng oras (hal., 15 segundo at 60 segundo). Ang resulta ng pagsukat ay tinatawag na ratio ng pagsipsip, na sumasalamin sa pagkatuyo ng materyal na pagkakabukod.
Ang dalas ng kuryente na may pag-iwas sa pagsubok ng boltahe ay ginagamit upang suriin ang panandaliang lakas ng pangunahing materyal na pagkakabukod. Ang pagsubok na ito ay isinasagawa sa ilalim ng overvoltage ng dalas ng kuryente at naglalayong i -verify ang pangkalahatang pagganap ng materyal na pagkakabukod. Sa panahon ng pagsubok, ang isang boltahe ng AC na mas mataas kaysa sa na -rate na halaga ay inilalapat. Halimbawa, ang 85kV ay inilalapat sa isang 35kV na aparato sa loob ng isang minuto. Ang lokasyon ng pagsubok ay maaaring nasa pagitan ng paikot -ikot at lupa o sa parehong mga dulo ng paikot -ikot. Kung walang breakdown o flashover na nangyayari, ang pagsubok ay isinasaalang -alang 合格 (kwalipikado).
Ang sapilitan na boltahe at bahagyang mga pagsubok sa paglabas ay ginagamit upang suriin ang pagganap ng pagkakabukod sa pagitan ng mga liko, layer, at mga phase sa paikot -ikot. Maaari itong makita ang panloob na bahagyang mga antas ng paglabas sa ilalim ng mataas na boltahe. Ang dalas ng pagsubok ay dapat dagdagan sa 100 hanggang 250 Hz upang maiwasan ang saturation ng core. Sa pagsubok sa induction, dalawang beses ang na -rate na boltahe ay inilalapat sa buong paikot -ikot. Ang isang bahagyang paglabas ng detektor ay ginagamit nang sabay -sabay. Ang antas ng paglabas ay sinusubaybayan. Ang antas ng paglabas ay karaniwang kailangang panatilihin sa ibaba 500 PC, o kahit na mas mababa.
Nagbibigay ang Type Testing ng isang komprehensibong tseke sa isang sample na yunit ng modelo. Ipinakita nila na ang disenyo ay maaaring makatiis sa lahat ng nakaplanong mga kondisyon ng operating.
● Pagsubok sa pagtaas ng temperatura Ang pagsubok ng pagtaas ng temperatura ay nagpapatunay na ang pagtaas ng temperatura ng paikot -ikot, langis, at core ay nananatili sa loob ng mga limitasyon. Ang pagsubok na ito ay isinasagawa sa ilalim ng na-rate na pag-load upang mapatunayan ang pangmatagalang katatagan ng thermal. Ang rated na kasalukuyang pagkawala ay nabuo sa paikot-ikot na paggamit ng short-circuit na pamamaraan. Ginagaya nito ang isang kondisyon ng pag -load. Ang proseso ng pag -init ay nagpapatuloy hanggang maabot ang balanse, karaniwang tumatagal ng maraming oras. Ang temperatura ng langis ay direktang sinusukat. Ang average na pagtaas ng temperatura ng paikot -ikot ay kinakalkula gamit ang paraan ng paglaban.
● Pagsubok sa Impulse ng Kidlat Ang pagsubok ng Impulse ng Lightning ay ginagaya ang epekto ng overvoltage ng kidlat sa pagkakabukod. Sinusuri nito ang kakayahan ng aparato na makatiis ng biglaang stress na may mataas na boltahe. Ang isang karaniwang pag -akyat ng kidlat ay inilalapat gamit ang isang salpok na generator. Ang mga surge na ito ay tumagal ng 1.2 watts, humigit -kumulang 50 microseconds. Ang mga full-wave at chopper surge ay ginagamit upang maapektuhan ang mga paikot-ikot na mga terminal. Ang mga pagbabago sa alon ay naitala upang makita ang anumang pinsala sa pagkakabukod.
Pagsukat sa antas ng tunog at panlabas na dalas ng kuryente na may testand ng pagsubok ng boltahe
Ang panlabas na dalas ng kuryente na nakatiis sa pagsubok ng boltahe ay nakatuon sa mga panlabas na sangkap. Kasama dito ang mga bushings at high-boltahe na paikot-ikot na grounding. Ang pagsubok ay isinasagawa sa ilalim ng mahalumigmig o maruming mga kondisyon ng hangin. Sa isang open-air na kapaligiran, ang isang mataas na boltahe ng dalas ng kuryente ay inilalapat sa pagitan ng mga live at grounded na bahagi.
Ang mga espesyal na pagsubok ay maaaring isagawa para sa mas malalim na mga inspeksyon batay sa mga pangangailangan ng gumagamit o mga espesyal na pag-setup. Ang mga pagsubok na ito ay pandagdag ayon sa mga tiyak na kinakailangan o kundisyon.
Ang pagsukat sa antas ng tunog ay ginagamit upang subaybayan ang ingay sa panahon ng walang-load at na-load na operasyon. Ito ay mainam para sa mga lokasyon na sensitibo sa tunog tulad ng mga lunsod o tirahan.
Ang maikling circuit na may kapasidad ng pagsubok ay ginagamit upang mapatunayan ang mekanikal na lakas at istruktura na nababanat. Ito ay nakatiis sa napakalaking puwersa ng electromagnetic na nabuo ng biglaang mga pagkabigo. Sa isang laboratoryo o sentro ng sertipikasyon, ang isang boltahe ay inilalapat sa isang gilid ng maikling pagsubok sa circuit. Ang isang short-circuit kasalukuyang ay inilalapat sa kabilang panig. Ang kasalukuyang aabot sa sampu -sampung beses ang na -rate na halaga. Ang pagsubok ay gaganapin para sa isang itinakdang oras, tulad ng dalawang segundo. ● Ang pagsukat ng impedance ng zero-sunud-sunod: Ang pagsukat ng impedance ng zero-sunud-sunod ay nagbibigay ng data para sa proteksyon ng kasalanan ng grid ground. Tumutulong din ito sa mga kalkulasyon ng katatagan.
Ang pagtatasa ng pagtugon sa dalas ay bumubuo ng mga paikot -ikot na mga curves ng katangian. Maaari itong makita ang mga nakatagong pagbabago sa mekanikal, tulad ng pag -aalis o pag -loosening, pagkatapos ng transportasyon o paggamit.
Ang lahat ng mga pagsubok na ito ay sumusunod sa mahigpit na mga alituntunin, at ang hierarchical system na ito ay nag -inspeksyon mula sa mga sangkap hanggang sa kumpletong yunit. Nag -filter ito ng mga depekto sa panahon ng pagmamanupaktura. Nagbibigay ito ng impormasyon sa pagganap sa gumagamit bago magsimula. Nagtatakda ito ng isang benchmark para sa patuloy na inspeksyon at pagpapanatili. Ang pamamaraang ito ay namamahala sa pagiging maaasahan ngtranspormerSa buong buong lifecycle nito.
